極片AI缺陷檢測方案介紹
鋰電極片缺陷檢測應用：
█ 檢測性能：算法部分的設計基于深度學習最新理念和架構，可用于檢測形態(tài)各異的缺陷，檢出能力強，最小檢測面積4*4像素大小的缺陷（0.1mm^2），8192*6000圖像大小的檢測耗時40-50ms。
█ 多分類性能:（在單分類的基礎上區(qū)分出檢測缺陷的種類，可用于設備工藝的改進）
█ 缺陷分類屏蔽能力：
熱線：
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江蘇省南京市江寧區(qū)創(chuàng)研路266號麒麟人工智能產(chǎn)業(yè)園A1號樓9F/10F
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